Anwendung
Oberflächenanalyse
Die APC bietet Schicht- und Oberflächenuntersuchungen an. Das Spektrum reicht von der Untersuchung der Oberfläche von Substraten bis zur Messung der aufgebrachten Schichten. Somit ist eine durchgehende Qualitätssicherung vom Erhalt von Substraten über deren Reinigung bis hin zu fertig beschichteten Substraten möglich.
Oberflächen und die aufgebrachten Schichten können mit folgenden Geräten untersucht werden:
- Taktiles Profilometer:
Messung der Schichtdicke auf ebenen Flächen mit einer Genauigkeit von 10 nm
Messung der Rauigkeit gemäß DIN EN ISO 4287 und 13565 - Reflektometer:
Messung der Schichtdicke auf beliebigen Flächen mit einer Genauigkeit von 10 %
Bestimmung des Brechungsindex von Schichten - Kontaktwinkelmessgerät:
Messung der Oberflächenspannung von ebenen Flächen - Härtemessgerät:
Messung der Knoop-Härte und der Rockwell-Härte - Mikroskop:
Aufnahme von Bildern von beliebigen Objekten mit einer Vergrößerung bis 200fach
Kontaktaufnahme für Oberflächenanalyse
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